询价
- 企业类型：制造商
- 新旧程度：全新
- 原产地：江苏省昆山市中华园西路1888号
- 测试平台：精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
- 探测器：Si-Pin探测器
- 工作原理：利用x射线对金属表面进行激发，检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器
- 准直器大小：φ0.1mm的小孔准直器
- 温度要求：15℃至30℃。
- 电源：交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源
- 外观尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
荧光镀层测厚仪，X射线电镀测厚仪，天瑞镀层测厚仪，thick800a电镀厚度分析仪，表面镀层测厚仪
Thick800A荧光镀层测厚仪是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款金属镀层测厚仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大表面处理电镀厚度检测仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
荧光镀层测厚仪是一款快速、无损、准确检测镀层厚度新型高端仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测，可以检测如镀金、镀镍、镀铜、镀铬、镍锌、镀银、镀钯等，多分析五层。
分析元素范围：从硫（S）到铀（U）
同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9%
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
SDD探测器：分辨率低至135eV
采用先进的微孔准直技术，小孔径达0.1mm，小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x575（D）x660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x395（D）x150（H）mm
样品台尺寸：393(W)x258(D）mm
X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位：小于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度15℃～30℃Thick800A荧光镀层测厚仪是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款金属镀层测厚仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大表面处理...
